FCP-01型单片机开发应用技术综合实验装置
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1．存储器块清零 2．二进制到BCD码转换 3．二进制到ASCII码转换 4．程序跳转表 5．内存块移动 6．数据排序 7．P1口输入、输出实验 8．继电器控制实验 9．用74LS244读入数据 10．用74LS273输出数据 11．串行数据转换并行数据 12．并行数据转换串行数据 13．PWM转换电压实验 14．音频控制实验 15．8255输入、输出实验 16．8155输入、输出实验 17．5LED静态串行显示实验 18．6LED动态扫描显示实验 19．查询式键盘实验 20．阵列式键盘实验 21．计数器实验 22．定时器实验 23．8253定时器实验 24．外部中断实验 25．串行口通讯实验 26．ADC0809模数转换实验 27．DAC0832数模转换实验 28．MC14433模数转换实验 29．EEPROM外部数据程序存储器实验 30．SRAM外部数据存储器扩展实验 31．93C46串行EEPROM数据读写实验 |
32．电子时钟实验
33．电子琴模拟实验
34．打印机控制实验 35．汽车转弯信号灯控制实验 36．温度传感器温度控制实验 37．温度过程控制模拟实验 38．五相步进电机模拟实验 39．计算器实验 40．数字频率计实验
41．V/F转换实验
42．F/V转换实验 43．LED点阵显示实验 44．字符液晶显示屏控制实验 45．8279键盘扫描显示实验 46．看门狗实验 47．8251串行口扩展通讯实验 48．I2C总线读写实验 49．RS232转RS485实验 50．USB接口实验 51．十字路口交通灯控制实验 52．五功能逻辑笔实验 53．直流电机驱动调速实验（实物） 54．步进电机驱动实验（实物） 55．IC卡读写实验 56．实时时钟/日历控制实验 57．语音芯片控制实验 58．单片机与CPLD实验
59．8051与PC机串行口通讯实验
60．Flash Rom外部程序存储器实验
61．多功能密码锁实验
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